POLTRACE

OpticStudio の偏光光線追跡ルーチンを呼び出し、現在の光学系で特定の光線を追跡します。

構文 :

POLTRACE Hx, Hy, Px, Py, wavelength, vec, surf

説明 :

式 Hx および Hy は -1 ～ 1 の間の値に評価される必要があり、正規化されたオブジェクトの座標を表します。瞳の座標は式 Px および Py で指定され、これらも -1 ～ 1 の間の値とする必要があります。正規化座標の詳細については、「規則と定義」の章の「正規化視野座標」および「正規化瞳座標」を参照してください。wavelength 式は、1 から定義した波長の最大数までの範囲の整数に評価される必要があります。vec 式は、1 ～ 4 の範囲の数に評価される必要があります。surf 式は、1 から面の数までの範囲の整数に評価される必要があります。

光線の入力偏光状態は、POLDEFINE キーワードにより定義されます。

光線が追跡されると、vec 式で指定したベクトル変数に、光線の偏光データが配置されます。たとえば、コマンド "POLTRACE Hx, Hy, Px, Py, w, 2, n" が発行された場合、データは VEC2 に格納されます。データは次のフォーマットで格納されます。ここで、各行の最初の数はアレイの位置です。

0 : n、ベクトル内のデータ エントリの数
1 : 面の後の光線強度
2 : 電場 X 成分、実数部
3 : 電場 Y 成分、実数部
4 : 電場 Z 成分、実数部
5 : 電場 X 成分、虚数部
6 : 電場 Y 成分、虚数部
7 : 電場 Z 成分、虚数部
8 : S 偏光場振幅反射率、実数部
9 : S 偏光場振幅反射率、虚数部
10 : S 偏光場振幅透過率、実数部
11 : S 偏光場振幅透過率、虚数部
12 : P 偏光場振幅反射率、実数部
13 : P 偏光場振幅反射率、虚数部
14 : P 偏光場振幅透過率、実数部
15 : P 偏光場振幅透過率、虚数部
16 : 電場 X 方向位相 Px
17 : 電場 Y 方向位相 Py
18 : 電場 Z 方向位相 Pz
19 : 偏光楕円の長軸長さ
20 : 偏光楕円の短軸長さ
21 : 偏光楕円の角度 (ラジアン単位)
22 : 光線がビネッティングされた面の面番号 (ビネッティングされていない場合はゼロ)
23 : S 偏光光線振幅反射率、実数部
24 : S 偏光光線振幅反射率、虚数部
25 : S 偏光光線振幅透過率、実数部
26 : S 偏光光線振幅透過率、虚数部
27 : P 偏光光線振幅反射率、実数部
28 : P 偏光光線振幅反射率、虚数部
29 : P 偏光光線振幅透過率、実数部
30 : P 偏光光線振幅透過率、虚数部

アレイ位置 0 の値が 0 の場合、発生したエラーおよび偏光データは無効です。これは、指定した光線を追跡できない場合に発生する可能性があります。拡張エラー情報を抽出するには、RAYTRACE コマンドの説明を参照してください。

例 :

POLDEFINE 0, 1, 0, 0
POLTRACE 0, 1, 0, 0, pwav(), 1, nsur()
PRINT "Transmission of chief ray at primary wavelength is ", vec1(1)