Zernike Annular系数(Zernike Annular Coefficients)





使用以下文章中所定义的表示法计算正交归一的Zernike系数:请参阅R. Noll"Zernike polynomials and atmospheric turbulence", J. Opt。Soc.Am., Vol. 66, No.3, p207 (1976);光瞳为环形光瞳,有关说明,请参阅V. N. Mahajan "Zernike annular polynomials for imaging systems with annular pupils", J. Opt。Soc.Am., Vol. 71, No.1, p75 (1981)。系数以波长为单位。感谢英国宇航技术中心(UK Astronomy Technology Centre)的Brett Patterson帮助我们开 发此功能。



采样(Sampling) 指定用于计算系数拟合的光瞳网格采样密度。网格尺寸越大越准确,但计算时间会增加。

请注意,采样是在均匀网格上进行的。如果这些光线没有在评估表面上均匀采样,则结果将不正确。请参阅下文详述内容中的"采样"部分。

最大项(Maximum Term) 指定要计算的最大Zernike系数。可指定的最大项数为231项。

波长(Wavelength) 计算中使用的波长编号。

视场(Field) 计算中使用的视场编号。

参考顶点计算OPD(Ref OPD To Vertex) 一般情况下,OpticStudio会参考主光线计算光程差,这实际上减去了波前相位中的倾斜。对于干涉仪,有时需要保留波前倾斜。选中此选项会将倾斜(基于主光线与像面顶点的偏差)加入到光束中。此选项仅适用于其主光线与表面顶点相当接近的视场位置,且前提是通过主光线偏差所描述的倾斜有效。

遮阑(Obscuration) 环形光瞳的遮阑比例ε。

表面(Surface) 选择要评估的数据所位于的表面。此选项对评估中间图像十分有用。请参阅"在中间面上的结果评估(Evaluating results at intermediate surfaces)"。如果"表面"设置为"图像",则OPD参考(Reference OPD)设置将确定评估数据的位置。

子孔径数据:Sx、Sy、Sr(Subaperture Data: Sx, Sy, S) 定义为其计算Zernike数据的光瞳子孔径。请参阅"子孔径计算(Subaperture computations)",以了解详细信息。

详述(Discussion)

此功能与"Zernike Standard系数(Zernike Standard Coefficients)"功能相似,不同的是光瞳可以是环形而非圆形。有关重要信息,请参阅该详述以及上面的引文。光瞳的环形性质是参数ε定义的,公式是

其中R和R是环形光瞳的内半径和外半径。当ε为零时,环面是圆形,Annular和Standard Zernike多项式相同。当ε大于零时,Annular Zernike多项式与Standard Zernike多项式不同。仅当拟合Annular多项式并忽略环形区域外的非渐晕波前光线时,OpticStudio才追迹环形区域中的光线。

Annular多项式通常过于复杂,没有列到文本输出窗口中,此处列出了前22项。角度φ是从局部+x轴开始按逆时针方向测量的角度。径向坐标是归一化的无量纲参数ρ。

Zernike Annular多项式



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,其中 ,和.

17

其中,

E和Q是在上面第16项中定义的。

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,其中 ,和  .

19

,其中

E和Q是在上面第18项中定义的。

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采样

用于拟合Zernike系数的波前由在归一化光瞳坐标(Normalized Pupil Coordinates)中均匀分布的光线网格进行采样。

因此,除非STOP表面与图像表面完全重叠,否则采样的光线很少在图像表面上均匀分布。

了解这一点很重要,尤其是在直接测量图像表面的波前时。例如,这就是Shack-Hartmann波前传感器在平面上测量波前的方式。如果是这种情况,请将STOP表面设置为与图像表面完全相同的位置,打开光线瞄准,并将系统选项中的OPD参考(Reference OPD)设置为绝对2。

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