滑块(优化选项卡、非序列模式)(Slider (optimize tab, non-sequential))


可在OpticStudio的手动调整部分找到滑块工具。滑块控件用于在查看任何分析窗口时交互式地调整任何系统和表面参数。

参见"优化选项卡"的"手动调整"部分下"滑块"的说明。
在非序列模式下,还有重新追迹光线的选项。

设置:
不追迹(No Retrace) 将不会重新追迹光线。
使用光线(Use Rays) 常规光线追迹会追迹所有光源定义的光线来更新所有探测器和实体模型图(可选)。
使用LightningTrace(Use LightningTrace)(支持6种采样级别的LightningTrace)通过LightningTrace进行分析,更新所有探测器的数据和实体模型图(可选)。对于光线采样小于64X,使用边缘采样4X,否则使用边缘采样16X。详细说明请参阅"分析选项卡"中的"LightningTrace控件"。
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