Transient基本故障率

IP設計の順序素子（フリップフロップ、論理ゲート等）の数からTransient故障率を導出できるようになりました。SEL、SET、SEU等の個々のソフトエラー率は、要素ごとに（ゲート/フリップフロップ/ビット）基本故障率を用いて指定でき、分析中のTransient故障と接続することができます。

構成変更可能なFMEDAの交換

専用の自己診断率エクスポート操作によってFMEDA/単一障害および潜在障害評価指標データを半導体メーカーからチップのインテグレータ（「ティア１」）へ手渡すことができるようになりました。この新機能を使うと、詳細な設計IPは保護したまま、システムの環境（ミッションプロファイル、安全機構等）に適合させることができるように関連データをまとめて別のプロジェクトへエクスポートすることができます。

半導体機能向けの自動適格性評価キット

mediniの "ツール適格性評価キット"は、継続的にツールの新機能に適応させられています。半導体のためのライセンス変更と半導体固有のアプリケーションケースに合わせ、IP設計に関連するすべての機能に特別に焦点を合わせた「半導体テストスイート」が別途導入されました。

新しいライセンスモデル

バージョン19.2では、半導体のワークフローに合わせた新しいライセンスタイプが2つ導入されました。「半導体Enterprise」ライセンスと「DCコンフィギュレータ」で、実際のIP設計を使って行うチップ設計分析のワークフロー、およびチップレベル分析をインテグレーションコンテキストに組み込むためのワークフローを特にサポートします。